Element GD Plus ™ Glow Mass Spectrometer

Element GD Plus GD MS mengubah cara analisis bahan dengan kemurnian tinggi langsung dari padatan. Batas deteksi level ppb dapat dicapai dengan upaya kalibrasi dan preparasi sampel yang minim dan menjadikan GD MS alat yang paling nyaman dan kuat untuk analisis logam curah pada aplikasi rutin dan juga penelitian. Ketahanan analitik yang luar biasa dari instrumen ini dapat diterapkan pada bahan konduktif dan non-konduktif dengan tingkat sensitivitas dan kualitas data yang sama. Ini menjadikan GD MS standar yang andal untuk analisis logam. 

Spektrometer massa Element GD Plus GD MS dirancang untuk melayani kebutuhan produsen yang membutuhkan bahan dengan kemurnian tinggi dan customer industri seperti: dirgantara: alloy super nikel, profil kedalaman coating dan lapisan difusi; mikroelektronika: tembaga, bubuk alumina, target sputter; energi terbarukan: blok silikon, wafer, sel surya; medis/ farmasi/makanan: stainless steel, alloys; dan nuklir: uranium, bahan bakar nuklir. 

Desain pintar dan sederhana dari Sumber Glow Discharge mengurangi waktu pengalihan sampel ke sebagian kecil dari waktu yang dulu. Sampel itu sendiri ditempatkan di ruang vakum, menghilangkan risiko kebocoran antara sampel dan sel GD. Sampel dapat dengan cepat dan mudah dihilangkan dari ion source, cukup dibongkar dan dipasang kembali, dan direposisi untuk pengukuran selanjutnya. Pembukaan dan penutupan manifold ion source sepenuhnya otomatis. 

Elemen GD Plus GD MS memiliki fitur teknologi terbaru untuk menghasilkan kecepatan analisis yang luar biasa dan throughput sampel yang tinggi, sensitivitas dan akurasi hasil yang baik. Penanganan sampel dirancang dengan baik untuk memastikan kemudahan penggunaan dan juga benefit pergantian sampel cepat untuk operasi rutin dan hasil yang baik. 

Hampir semua elemen yang terkandung pada sampel padatan dapat dideteksi dan dikuantifikasi untuk analisis rutin sampai tingkatan ppb level. 

µs-pulsed Fast Flow Glow Discharge Cell 

1. Ion source dengan sensitivitas tinggi dan mode pulse discharge 
2. Sputter rate yang bisa diatur untuk analisis cepat bulk atau untuk profiling sampel 
3. Analisis serbuk alumina dengan menggunakan elemen sekunder 

Double-focusing Mass Spectrometer 

1. Signal to noise ratio dapat mendeteksi sampai level ppb karena adanya transmisi ion tinggi dan background yang rendah 
2. Selektivitas dan akurasi yang maksimum dari resolusi massa: keharusan untuk mendapatkan hasil analisis terbaik 

Software yang produktif dan mudah digunakan 

1. Kontrol penuh terhadap semua parameter 
2. Tuning otomatis dan evaluasi data 
3. Konektivitas LIMS otomatis 
4. Remote control dan diagnostik Windows 7 
5. Pergantian sampel yang cepat, kurang dari 10 menit 
6. Kemampuan deteksi yang ultra pada analisis tunggal