Home > Privat: Product > Rapid Sequential Flame Model ZA4800 AAS Hitachi High-Tech

Pengukuran Berkecepatan Tinggi dan Berakurasi Tinggi dengan Model Sekuensial Cepat (ZA4800) – Mendukung Pengukuran Sekuensial hingga Maksimum 12 Unsur dengan Kecepatan yang lebih tinggi
Hitachi telah mencapai kecepatan pengukuran yang lebih tinggi dengan mengombinasikan metode koreksi Zeeman terpolarisasi yang telah digunakan sebelumnya dengan mekanisme penggerak kisi difraksi (diffraction grating) yang baru dikembangkan. Teknologi ini memungkinkan proses pengukuran berlangsung jauh lebih cepat, terutama bagi pengguna yang melakukan analisis beberapa unsur dalam satu sampel menggunakan metode nyala.
Dengan metode koreksi Zeeman terpolarisasi, pengukuran dilakukan hanya menggunakan lampu katoda berongga (Hollow Cathode Lamp/HCL) sehingga pengukuran dapat segera dimulai tanpa perlu menunggu waktu stabilisasi lampu. Selain itu, meskipun beberapa lampu unsur diaktifkan secara bersamaan, garis dasar (baseline) tetap stabil sehingga pengukuran dapat dilakukan secara cepat dan andal. Metode koreksi ini dapat memanfaatkan keunggulan pengukuran sekuensial tanpa bergantung pada jenis lampu yang digunakan.

Pengukuran berkecepatan tinggi diwujudkan melalui penerapan sistem optik baru yang meningkatkan kecepatan penggerak kisi difraksi (diffraction grating). Dengan mengaktifkan empat lampu katoda berongga (Hollow Cathode Lamp/HCL) secara bersamaan, hingga maksimum 12 unsur dapat diukur secara sekuensial. Pengukuran enam unsur dapat diselesaikan dalam waktu 48 menit, mulai dari penyalaan lampu hingga seluruh proses pengukuran selesai.
Pengukuran Sekuensial Beberapa Unsur dengan Satu Kali Injeksi Sampel
Pada pengukuran enam unsur menggunakan mode sekuensial cepat, absorbansi setiap unsur diukur secara berurutan ketika kisi difraksi bergerak pada kecepatan tinggi. Proses ini hanya memerlukan satu kali injeksi sampel. Dengan mengulangi proses pengukuran tersebut, hasil pengukuran keenam unsur dapat diperoleh dan ditampilkan secara bersamaan.
Koreksi Latar Belakang Menggunakan Metode Koreksi Zeeman Terpolarisasi, Teknologi Khas Hitachi untuk Analisis dengan Metode Nyala Api
Metode koreksi Zeeman terpolarisasi menghasilkan garis dasar (baseline) yang stabil, sehingga analisis sampel berkonsentrasi rendah dapat dilakukan dengan sensitivitas tinggi tanpa memerlukan aksesori tambahan pada Metode Nyala Api.
Stabilitas Garis Dasar (Baseline)
Metode koreksi Zeeman terpolarisasi melakukan koreksi menggunakan satu garis spektrum dari lampu katoda berongga (Hollow Cathode Lamp/HCL), sehingga menghasilkan garis dasar (baseline) yang stabil tanpa dipengaruhi oleh variasi intensitas cahaya lampu. Bahkan ketika beberapa unsur dianalisis secara bersamaan, stabilitas garis dasar ini dapat mengurangi waktu yang diperlukan untuk stabilisasi lampu, sehingga proses analisis menjadi lebih cepat.

Rentang Deteksi Latar Belakang yang Luas
Metode Koreksi Zeeman Terpolarisasi Mencakup Seluruh Unsur. Koreksi latar belakang dapat dilakukan terhadap unsur-unsur yang memiliki serapan pada daerah ultraviolet maupun daerah cahaya tampak. Metode koreksi Zeeman terpolarisasi merupakan salah satu metode koreksi yang memiliki keunggulan karena tidak memerlukan pemilihan metode secara terpisah untuk setiap unsur yang dianalisis. Selain itu, metode ini juga mampu melakukan koreksi terhadap unsur-unsur yang tidak dapat dikoreksi menggunakan metode koreksi lampu D₂, seperti natrium (Na) dan kalium (K).

WhatsApp us